Comment gagner du temps sur vos moyens de mesure automatisés ?

Comment gagner du temps sur vos moyens de mesure automatisés ?

Journée Technique organisée par Renishaw et Metrologic Group

By Metrologic Group

Date and time

Wednesday, June 5 · 10am - 3:30pm CEST

Location

Renishaw France

15 Rue Albert Einstein 77420 Champs-sur-Marne France

About this event

  • 5 hours 30 minutes

Comment réduire entre 50% et 80% le temps de mesure sur machine d’inspection ?

Comment économiser jusqu’à 80% du temps lors de la création des programmes de mesure ?


Venez découvrir comment nous adressons ces enjeux lors d’une Journée Technique conviviale, organisée conjointement par Metrologic Group et Renishaw le 5 juin 2024 dans les locaux de Renishaw à Champs-sur-Marne.


Au programme de cette journée :


  • Présentations des solutions innovantes Renishaw & Metrologic Group pour gagner en productivité.
  • Ateliers sur machines :

o Présentation de la machine haute précision Agility®, conçue spécialement pour la tête 5-axes REVO® multi-palpeurs, pilotée par la solution Metrolog X4.

o Démonstration des outils de programmation automatique avec Silma X4.

o Comparaison de la vitesse de mesure de la technologie 3-axes VS technologie 5-axes (PH20).

o La facilité d’utilisation de Metrolog X4 sur le comparateur Equator™, permettant une inspection comparative en atelier.

o La MetroFactory® d'Opus ST, un exemple unique d’intégration en atelier associant le comparateur Equator™ et le logiciel Metrolog X4.


Le nombre de places est limité, inscrivez-vous gratuitement dès maintenant.

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Organized by

Metrologic Group

Metrologic Group is a global 3D metrology software frontrunner, specialized in the design and development of industry-leading, high-tech, 3D measurement software solutions, associated electronics, and integration services.

With offices and distributors throughout the world, Metrologic Group delivers to all industrial blue-chip customers the most universal solution, dedicated to and tailored for all end-user’s everyday 3D measurement needs and requirements.